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激光粒度分析儀

型號：ST-JL601
品牌：三體儀器
類別：工業測試儀器

激光粒度分析儀是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的**動態光散射粒度儀產品。使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表麵電性的重要方法，在顆粒表麵處理中也是重要的手段。與國內外其它同類型儀器相比，它具有顯著的優越性，並可以配合激光粒度分布儀聯合應用於各項試驗。

服務熱線：18053625686

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產品介紹

　　產(chan) 品簡介：

　　激光粒度分析儀(yi) 是一款具備zeta電位和納米粒度雙重測試能力的**動態光散射粒度儀(yi) 產(chan) 品。

　　使用電泳光散射技術測定zeta電位，求出等電點，是認識顆粒表麵電性的重要方法，在顆粒表麵處理中也是重要的手段。與(yu) 國內(nei) 外其它同類型儀(yi) 器相比，它具有顯著的優(you) 越性，並可以配合激光粒度分布儀(yi) 聯合應用於(yu) 各項試驗。

　　適用範圍：

　　激光粒度分析儀(yi) 同時具有Zeta電位及納米粒徑的分析測試功能，適用於(yu) 多種不同的納米乳液、懸浮液膠體(ti) 等的粒度和表麵電位測量，能廣泛應用於(yu) 精細化工行業(ye) 納米材料、表活、低聚物等的研發和生產(chan) 質控，同時也是油墨，醫藥製劑等行業(ye) 產(chan) 品研發及質控檢測儀(yi) 器。

　　技術參數：

規格型號	ST-JL601
執行標準	GB/T 19627-2005/ISO 13321-1996 ；GB/T 29022-2012/ISO 22412-2008
測試範圍	1-10000nm（與樣品有關）		-500mV — +500mV
濃度範圍	0.1mg/ml--100mg/ml(與樣品有關)
電泳遷移率範圍	> ±20μm.cm/V.s
**電導率	200mS/cm（取決於樣品）
準確度誤差	<1%（國家標準樣品D50值）		<15%（標準樣品）
重複性誤差	<1%（國家標準樣品D50值）		<15%（標準樣品）
激光光源	半導體激光器，λ= 635nm，P=1-40mw （可調）
探測器	光電倍增管PMT
散射角	90o		18o
樣品池體積	10mm10mm40mm, 1--4mL		10mm10mm60mm, 1mL
溫控範圍	5-45℃
溫控精度	0.1℃
測試速度	<5 Min
數字相關器主要參數	規格型號	HA1024	HA1024
	自相關通道	892	892
	基線通道	4	-
	物理通道數	5000	-
	延遲時間	1µs-10ms（可調）	1µs-10ms（可調）
體積	560mm450mm280mm
重量	20Kg

　　產(chan) 品特點和優(you) 勢：

測試原理	采用電泳光散射原理和光子相關光譜技術，根據顆粒在液體中的電泳運動速度測定顆粒Zeta電位的大小。顆粒電泳運動的群體速度，激光照射這些顆粒，導致的散射光多普勒頻移量不同。光子相關光譜法就根據頻移量分析顆粒Zeta電位的大小。
超高速數據采集	本儀器的核心部件通過HA1024數字相關器，能實時完成電泳散射光強的采集和自相關函數運算，從而有效地反映顆粒的電泳運動速度的信息，為Zeta電位測試結果的準確性奠定基礎。
高靈敏度信噪比	采用專業級高性能光電倍增管，對光子信號具有**的靈敏度和信噪比。
高精度恒溫控製	采用半導體溫控技術，溫控精度高達0.1℃,使樣品在整個測試過程中始終處於恒溫狀態，避免溫度變化而引起液體黏度及布朗運動變化導致的測試偏差，保證測試結果準確性及穩定性
穩定的光路係統	采用光學移頻裝置與光纖耦合技術搭建而成的光路係統，使探測係統不僅體積小，而且具有很強的抗幹擾能力，從而保證了測試的穩定性。

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